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菲希爾測厚儀Couloscope CMS2 Step

更新時間:2024-06-16

訪問量:555

廠商性質:代理商

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簡要描述:
菲希爾測厚儀Couloscope CMS2 Step,菲希爾測厚儀,統(tǒng)計:平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數、Cp、Cpk 和直方圖
品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產地類別進口應用領域環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

菲希爾測厚儀Couloscope CMS2 Step

菲希爾測厚儀Couloscope CMS2 Step

在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。

COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。

CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。 COULOSCOPE CMS STEP多層鎳測厚儀器根據庫侖電量分析法進行測量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準

 通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

 COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。

無錫駿展儀器有限責任公司為客戶提供方守合同、快速售前(演示設備、引進更新技術)銷售(選購、滿足客戶對客戶的要求)、售后服務、設備維修、維修問題等)當客戶需要時,我們專業(yè)的工作人員可以到客戶現場,提供急需的服務。

菲希爾測厚儀

菲希爾測厚儀Couloscope CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2應用:

強大并且用戶友好的 COULOSCOPE CMS2 適用于電鍍行業(yè)的生產監(jiān)控和成品的質量檢驗。很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用 CMS2 簡單快速地測量。 這個方法為任何金屬鍍層提供了的測量。 在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內, 很多材料不需要預設定; 基材組成和幾何形狀對于測量都是無關緊要的。常見的應用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS)基材上,經常被用于高品質的浴室用品,也可以用這個方法進行測量。

無錫駿展儀器有限責任公司提供專業(yè)的技術服務和售后服務,本著為用戶著想,價格合理,設備質量可靠的宗旨,竭誠為您服務。



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