菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

 菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
FISCHERSCOPE  X-RAY XDL  240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方
式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。
典型的應用領域有：
測量大規(guī)模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣
品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板。